Vertex II X-RAY 光检测仪
Vertex II X-RAY 光检测仪
VJ Electronix Vertex A系列功能强大,配置灵活,检测区域覆盖面积广(20”×24”),可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能,使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。 可供选择的X光源(75kV,90kV,130kV,150kV)及探测器(2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器)为您提供了多样性的X射线检测性能。
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  • 基本介绍
  • 主要参数
  • VJ Electronix Vertex A系列功能强大,配置灵活,检测区域覆盖面积广(20”×24”),可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能,使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。

    可供选择的X光源(75kV,90kV,130kV,150kV)及探测器(2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器)为您提供了多样性的X射线检测性能。

    型号 A-75 ~ A-150
    光源 75KV~150KV
    焦点大小 45μ~5μ
    空间分辨率 ﹥10 lp/mm~﹥40 lp/mm
    总放大倍率-标配摄像头 ﹥24X~﹥130X
    总放大倍率-高分辨率摄像头﹥29X~ ﹥240X
    视野(可视区域)﹥2”~﹥1.6”
    设备尺寸 70” ×50” ×62”(D×W×H)   (2000mm×1422mm×1575mm)
    离轴防护:可用1或2个轴夹具; 检测范围:20” ×24”; 基板尺寸:20¼” ×24¼”

      Delivering Growth – in Asia and Beyond.

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